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ZBW6555A珠寶維修萬向焊接體視顯微鏡
ZBW6555A首飾微鑲顯微鏡采用高鋼性,緊湊穩定的機架,其空間占用范圍小，優良的光學性能設計,大變倍比及寬闊的視場,可全面滿足微鑲行業的操作需求,調焦便捷，是珠寶微鑲行業的常用工具。
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ZBW7045A珠寶鉆石微鑲機7-45X立體體視顯微鏡
ZBW7045A首飾微鑲顯微鏡采用高鋼性,緊湊穩定的機架,其空間占用范圍小，優良的光學性能設計,大變倍比及寬闊的視場,可全面滿足微鑲行業的操作需求,調焦便捷，是珠寶微鑲行業的常用工具。
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FUV-4紫外熒光燈珠寶輔助鑒定儀器
FUV-4紫外熒光燈是一種重要的輔助性鑒定儀器，主要用來觀察寶石的發光性（熒光和磷光）雖然熒光反應很少能作為判定寶石種屬的決定性證據,但在某些方面可以快速地區分寶石品種。
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FGR-002寶石折射儀 珠寶玉石翡翠古玩鑒定儀測折射率儀器
寶石折射儀是寶石測定Zui主要的工具,也是鑒別寶石種Zui有力的工具。它能無損、快速、精確地測量寶石的折射率值，并能確定出寶石的其它光性特征。測量寶石或礦石的折射率，還可以測出雙折射率，通過參數我們可以判斷一塊寶石是單軸還是雙軸光性或晶體。獨特的折射油瓶設計，克服了傳統油瓶的易碎、易潑灑、不好控制滴量等缺陷，使用更安全、更經濟、更方便；
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VGM870DM視頻寶石顯微鏡6.7-45X
VGM870DM三目連續變倍視頻寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續變倍光學成像系統與適合珠寶檢測的專業設計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高亮度LED光纖光源和暗場照明，均勻的熒光燈面光源，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
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VGM750DM視頻珠寶顯微鏡6.5-55X帶LED光纖
VGM750DM三目連續變倍視頻寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續變倍光學成像系統與適合珠寶檢測的專業設計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高變倍比1:8.5的光路系統，高亮度LED光纖光源和暗場照明，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
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VGM740DM視頻寶石顯微鏡7-45X
VGM740DM三目連續變倍視頻寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續變倍光學成像系統與適合珠寶檢測的專業設計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高亮度LED點光源和暗場照明，均勻的熒光燈面光源，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
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VGM870A專業旋臂式寶石顯微鏡6.7-45X珠寶雕刻觀察
VGM870型三目連續變倍寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續變倍光學成像系統與適合珠寶檢測的專業設計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高亮度LED光纖光源和暗場照明，均勻的熒光燈面光源，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
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VGM750A高清專業級寶石顯微鏡連續變倍
VGM750型三目連續變倍寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續變倍光學成像系統與適合珠寶檢測的專業設計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高變倍比1:8.5的光路系統，高亮度LED光纖光源和暗場照明，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
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VGM740A三目連續變倍寶石顯微鏡
VGM740型三目連續變倍寶石顯微鏡是對寶石進行觀察\鑒定的專用顯微鏡，其采用連續變倍光學成像系統與適合珠寶檢測的專業設計，適合用于各類鉆石、晶體、寶石等珠寶鑒賞的需求。該顯微鏡使用高亮度LED點光源和暗場照明，均勻的熒光燈面光源，可觀察到高清晰和高分辨率的立體圖像，同時具有較大的景深和很強的立體效果，機身設計堅固耐用，精密可靠，外型美觀，操作簡便。
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T-AFM(Nanoview 800)教學型原子力顯微鏡
FM-Nanoview 800(T-AFM)教學型原子力顯微鏡采用小型化及可拆卸化設計，非常便于攜帶及教學，激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強，精密探針定位裝置，激光光斑對準調節非常簡便，單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描，馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品.
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T-STM教學型便攜掃描隧道顯微鏡
FM-NanoviewT-STM教學型掃描隧道顯微鏡采用小型化及可拆卸化設計，非常便于攜帶及課堂教學；?檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強；單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
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